Application of epifluorescence light microscopy (EFLM) to study the microstructure of wheat dough: a comparison with confocal scanning laser microscopy (CSLM) technique

نویسندگانPeighambardoust SH- Dadpour MR- Dokouhaki M
نشریهJournal of Cereal Science
ارائه به نام دانشگاهبله
شماره صفحات21-27
شماره مجلد51
نوع مقالهFull Paper
تاریخ انتشار2010
رتبه نشریهISI
نوع نشریهچاپی
کشور محل چاپهلند
نمایه نشریهQ1

چکیده مقاله

لینک ثابت مقاله